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產品名稱: |
XQ15-GI激光平面干涉儀
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型號規格: |
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產品類別: |
常規產品 -- 儀器儀表
-- 光學儀器 |
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參考價格: |
廠價直銷 |
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產品品牌: |
上光 |
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產品產地: |
上海 |
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可供數量: |
批量 |
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供貨周期: |
現貨(或電詢) |
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產品簡介: |
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XQ15-GI激光平面干涉儀產品詳細說明:
產品簡介:
1、防震性能好、有極好的條紋鎖定度、視場清晰、生產場所可用性優于市場同類產品,大容量的
2、工作室為大批量生產企業的大鏡面檢測提供了方便。
XQ15-GI 激光平面干涉儀技術參數:
1、第一標準平面(A面),工作直徑D1=φ146mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
2、第二標準平面(B面),工作直徑D2=φ140mm,平面的面形偏差小于0.03μm(λ/20)
3、準直系統:工作直徑φ146mm,孔徑F/2.8,焦距f=400mm
4、測微目鏡:焦距f=16.7mm;
5、視場角:2W=40?;放大倍數β=15X
6、成像物鏡:D=7,F=16
7、光源規格:ZN18(He-Ne)
8、干涉室尺:φ480*380*285mm
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