11XB-PC研究級透反射偏光暗場DIC顯微鏡產品詳細說明：

11XB-PC研究級透反射偏光暗場DIC顯微鏡

型號：11XB-PC
研究級透反射偏光暗場DIC顯微鏡

技術參數
1.觀察頭：任意可調，可調瞳距50mm-75mm，正像人性化0°～45°可調
2.目鏡：WF10/25mm
3.平場無限遠復消色差長工作距離物鏡：
5X/0.15W.D.44mm
10X/0.30W.D.34mm
20X/0.35W.D.30mm
50X/0.50W.D.17mm
4.轉換器：可調中心四控轉換器
5.輪廓照明：
光源：鹵素燈泡（12V，50W）
光學系統：帶有可調整光圈的遠心照明系統
功能：光強度可調，無極亮度調整
6.表面照明：
光源：鹵素燈泡（12V,50W）
光學系統：帶孔徑光欄和視場光欄Kohler照明
功能：光強度可調，無極亮度調整
7.偏光裝置：檢偏器可360°轉動起偏鏡，檢偏鏡均可移光路
8.顯示裝置：
軸數：2軸或3軸
分辨率：0.001mm/0.005mm/0.0005mm
功能：調零，方向轉換，數據輸出，TTL訊號
電源：AC85V～230V
9.檢測工具：0.01mm測微尺
10.平臺：
X、Y工作臺移動范圍：100mm*100mm
Z軸移動范圍：150mm
調焦方式：手動調焦
測量方式：線性編碼器：3軸型：X/Y/Z軸
2軸型：X/Y軸
分辨率：0.001mm/0.005mm/0.0005mm
測量精度：準確度的測量基準為20±1℃
浮動的功能：帶有快速斷開功能的X和Y軸
XY工作臺臺面尺寸：286mm*286mm
載物玻璃有效尺寸：180mm*180mm

產品簡介：
11XB-PC研究級透反射偏光暗場DIC顯微鏡作為高級金相顯微鏡使用，是針對半導體工業、硅片制造業、電子信息產業、冶金工業開發的，可用來鑒別和分析各種金屬和合金的組織結構，可廣泛應用在工廠或實驗室進行鑄件質量的鑒定、原材料的檢驗或對材料處理后金相組織的研究分析等工作。符合人機工程學要求的設計，使您在工作中感到舒適和放松。
選購件：
1.15X、20X目鏡
2.WF10X/20mm，帶0.1mm十字分劃板
3.物鏡：PL L2X 、PL L100X
4.適配鏡
5.工業相機
6.分析軟件